SSD使用的閃存顆粒中，eTLC NAND顆粒通常具有更高的P/E次數，這意味著它們具有更長的使用壽命。

影響eTLC SSD壽命的主要因素

可擦/寫次數（P/E Cycle）：

eTLC NAND顆粒的P/E次數通常為7000到10000次，遠高于TLC NAND顆粒的500到3000次。在相同的使用條件下，eTLC SSD的使用壽命更長。

P/E Cycle表示：在SSD的整個生命周期中，每個存儲單元可以被寫入和擦除的次數。一旦達到這個限制，存儲單元可能會失效，導致數據丟失或性能下降。

寫入放大（WAF）：

SSD在寫入數據時，由于內部算法和管理的需要，實際寫入的數據量可能會大于用戶請求寫入的數據量。這種現象稱為寫入放大，它會加速SSD的磨損，縮短其使用壽命。

因此，SSD會導入TRIM功能，可以幫助減少寫入放大的影響， TRIM可以通知SSD哪些數據塊不再被需要，從而允許SSD更有效地管理其存儲空間。

溫度和供電穩定性：

高溫和供電不穩都會加速SSD的老化，導致數據丟失或硬件損壞。

保持SSD在適當的溫度范圍內（通常為0°C至70°C）以及使用穩定的電源，可以延長其使用壽命。

容量和DWPD：

SSD的容量越大，通常意味著其有更多的存儲單元來分散寫入操作，從而延長使用壽命。

即使在高DWPD（每天全盤寫入次數）的情況下，eTLC SSD更具有較高的P/E次數，故能保持較長的使用壽命。

因此，在選擇SSD產品時，要選擇eTLC或DWPD越高的，則壽命越長。

威剛工控推薦eTLC SSD系列

目標應用