光學檢測作為智能制造的關鍵一環，一直以來肩負著工業制造過程中產品質量、精度和性能等方面的重要保證。近年來，更是被廣泛用于消費電子、半導體芯片，汽車零部件等質量檢測中，為制造業從材料分析到生產，再到裝配及失效分析全面賦能，向高質量發展努力轉型。

在即將于上海新國際博覽中心（3月20-22日）舉辦的2024慕尼黑“上海光博會”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「質量」專家蔡司將再度攜一眾質量解決方案重磅登場——屆時，您將領略蔡司最新光學系統復合式檢測解決方案，，顯微分析質量解決方案，連接器無損檢測解決方案，藍光三維光學掃描質量解決方案等。

而更值得期待的是，展會首日，蔡司還將正式發布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數碼顯微鏡究竟將帶來哪些創新？3月20日上午11：00，蔡司展臺W4102，我們將現場為您揭曉，敬請期待！

先劇透現場部分精彩  

看點1

光學系統復合式檢測解決方案 | 功率模塊IGBT

挑戰：復雜零件的多測頭復合測量

蔡司解決方案 | O-INSPECT 543復合測量機 搭載 CALYPSO以及PiWeb

多功能復合測量 更高檢測效率全新共聚焦白光系統

更靈活應對不同的應用

軟件系統 功能強大卻簡單易學

看點2

復合式質量解決方案 | 電子器材

挑戰：電子領域背板連接器測量挑戰

蔡司解決方案 | O-DETECT 322復合式檢測

高效光學測量 更高檢測效率

全景相機導航 方便編程

軟件系統 功能強大卻簡單易學

看點3

顯微分析質量解決方案 | 電子器材

挑戰：線路板生產過程中大量切片樣品的觀察與層厚的測量挑戰

蔡司解決方案 | 光學數碼顯微鏡Axio Scope 7

簡單易操作

成像質量好

XYZ軸全電動機型

看點4

CT檢測質量解決方案 | 電子產品

連接器產業鏈的測量挑戰（從生產到裝配及失效分析）

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產過程

一臺設備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測，失效分析，非破壞性測試

借助孔隙率分析功能優化注塑工藝參數

低使用成本、低維護成本、較小占地面積（1.6㎡）

多工件批量掃描、自動化檢測腳本，有效節約人力和時間

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析

在整個測量范圍內具備可追溯的計量精度

ZEISS INSPECT X-Ray 簡便易用，功能強大

無損檢測，無需剖切

ZEISS Metrotom多樣產品序列滿足客戶各種需求

AMMAR 及BHC各類偽影校正功能，顯著提升圖像質量

更多精彩

歡迎來展會現場與我們相聚

（展位號：W4102）