半導體檢測是控制生產良率的關鍵環節，貫穿于設計、制造、封裝測試等半導體生產流程中的各個環節。細微處見真章，半導體零部件的尺寸要求非常嚴格，需要極高精度的測量設備才能保證檢測結果精準；同時檢測設備的穩定可靠以及一機多用，也是行業用戶的普遍需求。

?？怂箍礟MM-C 系列超精度三坐標測量機挑戰半導體零部件尺寸檢測新高度，搭載適用范圍廣泛的接觸和非接觸探測系統，實現微小精密零部件的亞微米級檢測。本期直播，?？怂箍导夹g專家面向半導體制造，針對電子、汽車等多行業的各類精密零部件，為大家帶來兼具超高精度和效率的測量解決方案。

直播預告

12月21日（周四）14點

識別二維碼預約直播

超高精度測量

提供亞微米級的超高精度，精度可達0.28微米；

配置主動減振系統，消除環境振動影響；

每個測量軸都能夠提供高剛性，確保整個測量范圍內精度一致；

專利設計的固定龍門、移動工作臺結構，可確保長期穩定性。

高柔性多功能

集成光學和接觸測量傳感器，滿足各類半導體零部件測量應用需求；

多種探測系統在同一個測量程序內自動更換，讓測量更靈活更高效；

通過低測力的接觸式測頭和非接觸式測頭，保證易變形易損傷零部件的安全。

應用范圍廣泛

電子工業用小型塑料元件的測量

小型塑料透鏡精密模具導針的測量

智能手機相機塑料鏡頭的非接觸式測量

專家介紹

孟書廣

?？怂箍抵圃熘悄艹呔葯z測專家

對三坐標測量機的產品開發、應用培訓等經驗豐富；熟悉電子、航空等行業的方案開發、軟件開發、技術應用等。