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專為以下工程師度身定制：
--專為通訊，消費電子和IC行業的測試而創建的ATE測試平臺
--渴望加速產品開發周期并大幅提高效率
--需要更進一步了解NI模塊化儀器(ni.com/china/mi)產品及應用詳細內容

* 為了幫助您從本次研討會中取得最大的收獲，我們建議您先期參加如下NI研討會或預先具備相應知識為宜：
--基于計算機技術的測量與自動化系統
--了解示波器、萬用表、信號源等的基本運作

您將通過本場研討會：
--了解在創建基于PXI的ATE測試系統時必需的技術要點，尤其是針對通訊，消費電子和IC行業的測試
--學習上述行業設計和測試的難點以及如何克服這些難點
--通過實際的案例學習模塊化儀器的應用

涉及的產品包括：
--2輸入/2輸出 24位動態信號采集與生成設備
--200 MHz 信號發生器
--200 MHz 高速數字化儀
--100 MHz 高速數字IO
--數字萬用表和開關模塊
--射頻測量和發生設備
--最新的7位半數字萬用表 - NI PXI-4071
--最新的可變分辨率數字化儀 - NI PXI-5922

在三個小時的研討會中，NI主講工程師將現場穿插不同的應用演示，幫助您進一步理解基于PXI的模塊化儀器的優勢所在。

時間和地點：
6月7日 15:00-17:30 綿陽九龍賓館會議中心一樓第一會議室(綿陽市科學城一區)
6月14日 15:00-17:30 重慶萬豪酒店8樓夏廳(重慶市青年路77號)
6月21日 14:00-17:00 武漢湖濱花園酒店觀湖樓二樓廳3.4 (武漢市武昌珞瑜路115號)

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了解更多有關LabVIEW的詳細信息，請訪問ni.com/china/labview。或與NI上海分公司聯系：上海市曲陽路800號商務大廈6樓（200437），電話:(021)65557838，傳真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免費咨詢電話：800 820 3622

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