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NI 第四屆基于計算機的測試測量和自動化應用方案有獎征文競賽即日起開始

-----NI 2003 Paper Contest

場次安排:     起止時間: 2003-04-10 至 2003-07-16

隨著計算機的日益普及,今天的測控儀器行業正經歷著一場翻天覆地的重大變革。數以百萬計的工程師和科學家們正在使用完全自定義的基于計算機的測控系統,并成功地應用于各種測試/測量和工業自動化應用領域。

2000、2001與2002年的連續3屆基于計算機的測試測量和自動化征文大賽受到了廣大用戶的大力支持。為進一步推動虛擬儀器技術在國內的發展和應用,使更多的工程師們能更快更好地開發符合特定要求的基于計算機的測控系統,National Instruments (美國國家儀器有限公司,簡稱NI)作為開發和生產基于計算機的測試測量和自動化軟/硬件產品的領導者,將在中國地區舉辦第四屆基于計算機的測試測量和自動化應用方案有獎征文競賽。

本次活動接受報名表與參賽文章題目與摘要起至日期:即日起止2003年5月31日,接受參賽文章起止日期:提交報名表與參賽文章題目與摘要后收到NI通知入選起止2003年7月15日。

本次征文大賽獲獎者除了獲取NI高額獎金之外,還可以在NI LabVIEW下一版本7.0版上市后享有一次免費升級服務、免費獲得LabVIEW中文教材《LabVIEW 6.1編程技術實用教程》一本、免費參加一年一度的NIDays活動。

歡迎NI用戶踴躍報名參加本次征文競賽活動。詳細信息請訪問:ni.com/china,點擊“活動安排與培訓課程”一欄;或與NI上海市場部聯系:電話:021-65557838,傳真:021-65556244,Email:china.info@ni.com,免費咨詢電話:800 820 3622
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