卡倫測控產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗設(shè)備,幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗,是國內(nèi)可靠性試驗設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有:芯片氣體沖擊、步入式試驗室、超快速冷熱沖擊試驗機、恒溫恒濕試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱、冷熱沖擊試驗設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗機、液態(tài)沖擊試驗箱、耐候試驗設(shè)備、快速溫變試驗箱、高溫老化室、老化測試室、低氣壓試驗機、QUV 紫外線老化試驗機、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、鹽水噴霧試驗機等。二.可靠性老化測試設(shè)備,如高溫反偏老化系統(tǒng)(HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)(H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗系統(tǒng)(IOL)、HTOL 集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)等。
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